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10-2013

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HF-Praxis 10/2013

Messtechnik Bild 5:

Messtechnik Bild 5: Messergebnis eines Volumenscans denspitze angeordnet. Die komplette Sonde ist eine Aktivsonde. Der Anwendungsbereich der IEC Norm IEC 61967-3 von 150 kHz bis 1 GHz wird mit diesen Sonden vollständig abgedeckt und überschritten. Das IC-Test System für Nahfeldmikrosonden kann alle Typen von Mikrosonden und größere Nahfeldsonden aufnehmen. Diese werden durch das vierachsige Positioniersystem im Messvolumen punktweise bewegt. Die Positionskontrolle der Sondenspitze erfolgt durch ein Digitalmikroskop. Die kleinste Schrittweite des Positioniersystems beträgt 5 µm. Allerdings bestimmt die Messauflösung der Nahfeldsonden die Schrittweite für die vollständige IC Messung. Volumenscan über IC Das Messergebnis eines Volumenscans über das IC ist im Bild 5 dargestellt. Das Messvolumen beträgt 11 x 11 x 1,6 mm über einem IC mit 44 Pins. Die Lokalisierung der Feldquellen ist sehr anschaulich und leicht möglich. Die Feldverteilung an der Oberfläche lässt Schlüsse auf die innere IC-Struktur zu. Bei der räumlichen Darstellung des Magnetfeldes werden die Orte gleicher Feldstärke durch ISO- Flächen verbunden und in ihrer Intensität farbig dargestellt (rot: intensive Störausstrahlung). Am Ende der Messung stehen für alle Frequenzen des Messintervalls die Oberflächenscans zur Verfügung und zwar pro Frequenzpunkt und pro Volumenebene ein kompletter Oberflächenscan. Durch Auswahl der Peaks im gemessenen kumulativen Spektrum und Einstellung der zugehörigen Frequenz in der Auswertesoftware werden über den Frequenzwert des Oberflächenscans die Feldquellen der Störemissionen lokalisierbar. Rückschlüsse auf die Einbauumgebung des IC sind leicht erkennbar. Unter Verwendung von Spektrum-Analysatoren und Nahfeldsonden sind Voruntersuchungen auf PCB-Ebene möglich. In Kombination mit einem IC-Test- System nach Bild 6 ist es dem Entwicklungsingenieur möglich, EMV-Emissionen präzise zu lokalisieren und die Messer- Bild 6: PCB-Scan System Bild 7: IC-E-Feldüberschreitung 16 hf-praxis 10/2013

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