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10-2018

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Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik

EMV Bild 3:

EMV Bild 3: Exemplarische Messeinstellungen für eine Störersuche in weiten Bereichen bereich und der maximal zulässige Pegel der Störaussendungen eingestellt werden. Es ist nicht erforderlich, die Auflösungsbandbreite für jeden einzelnen Frequenzbereich zu optimieren, wie es bisher erforderlich war. Spurious Detection Table In einem schnellen Referenz- Sweep beurteilt die Test-Applikation den Rauschpegel und berechnet die erforderliche RBW für den jeweiligen Frequenzbereich. Anschließend bestimmt sie, ob jede entdeckte Signalspitze eine Störaussendung, Bestandteil des Rauschens oder ein intern erzeugtes Störsignal ist und fasst die Ergebnisse in der Spurious Detection Table zusammen (Bild 3). Dort sind alle Signale aufgeführt, die den erlaubten Grenzwert überschritten haben und auch tatsächlich Störaussendungen sind. Der intelligente Algorithmus in der Option R&S FSW- K50 minimiert dabei die Auflösungsbandbreite auf den geringst möglichen Wert, damit alle Störaussendungen im gewählten Frequenzbereich sicher entdeckt werden können, vergrößert sie aber in den Frequenzbereichen, in denen keine potenziellen Aussendungen gefunden wurden. Dadurch verkürzt sich die Zeit für die Suche bis um den Faktor 50 im Vergleich zu herkömmlichen Methoden, auch wenn große Frequenzbereiche und strenge Grenzwertvorgaben zu konstatieren sind. Diese neue Technik verlangt nur noch vom Bediener, den zu untersuchenden Frequenzbereich und den maximal erlaubten Störpegel festzulegen. Eine 10-dB-SNR-Margin zwischen Rauschpegel des Instruments und spezifizierter Störemissions-Detektionsschwelle ist per default vorgesehen. Die SNR-Margin kann aber auch zusammen mit anderen Parametern vom Nutzer geändert werden, wie aus Bild 3 ersichtlich. Spectral Overview, Spur & Spot Search Der fortschrittliche Messprozess in der Option FSW-K50 (Spurious Search Algorithm) basiert auf drei Sweeps pro Messschritt. Die FSW-K50-Application führt zunächst einen schnellen Referenz-Sweep in der vorgegebenen Frequenzspanne durch, um einen Überblick zu geben (Spectral Overview). Darauf generiert die Applikation die nötigen Informationen über das Signal, um den Rauschflur und andere Faktoren abzuschätzen. Bild 4 zeigt Spectral Overview und Rauschflur, abgeschätzt für eine Messung mit 2 GHz Span. Die Rauschflurabschätzung ist erforderlich, um die RBW frequenzabhängig optimal für die folgenden Messschritte einzustellen: Der Span-Bereich wird dazu in schmale Segmente eingeteilt. Deren Breite richtet sich nach Signal- und Rauschverhältnissen und Einstellungen am Gerät. Als Resultat entsteht eine Segmenttabelle (Bild 5). Bild 4: Spectral Overview und Rauschflur, abgeschätzt für eine Messung mit 2 GHz Span 20 hf-praxis 10/2018

EINE DESIGNPLATTFORM – KEINE HINDERNISSE EINFACH INTELLIGENTER NI AWR DESIGN ENVIRONMENT Die Plattform NI AWR Design Environment integriert System-, Schaltungs- und elektromagnetische Analysen für das Design anspruchsvoller Wireless-Produkte, von Basisstationen über Mobiltelefone bis hin zur Satellitenkommunikation. Die intuitive Bedienoberfläche, bewährte Simulationstechnologien und die offene Architektur der Plattform, die Lösungen von Drittanbietern unterstützt, ermöglichen erfolgreiches Entwickeln ohne jedes Hindernis. Entwickeln Sie einfach intelligenter. Erfahren Sie mehr unter ni.com/awr Microwave Office | Visual System Simulator | Analog Office | AXIEM | Analyst ©2017 National Instruments. Alle Rechte vorbehalten. Analog Office, AXIEM, AWR, Microwave Office, National Instruments, NI und ni.com sind Marken von National Instruments. Andere erwähnte Produkt- und Firmennamen sind Marken oder Handelsmarken der jeweiligen Unternehmen.

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