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Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik

EMV Leitungsgebundener

EMV Leitungsgebundener Pulstest für ICs zum rückwirkungsfreien Test aller einzelnen IC-Pins ICs sind meist die empfindlichsten Elemente auf einer Baugruppe. ICs im Vorfeld einer Entwicklung auf ihre EMV-Eigenschaften zu testen und diese im gesamten Design des Boards einzubeziehen, spart Zeit und Kosten bei der Entwicklung von elektronischen Geräten. Probe P331-2 ist ein ESD-Generator nach IEC 61000-4-2. Dieser Mini-ESD-Generator ist so aufgebaut, dass man IC-Pins direkt kontaktieren kann. Dabei ist das Besondere, dass gegenüber dem handelsüblichen ESD-Generator keine ungewollten elektromagnetischen Störfelder das IC zusätzlich beeinflussen. Handelsübliche ESD-Generatoren koppeln zusätzlich zum Störimpuls nach IEC 61000- 4-2 über ihr Gehäuse elektrische und magnetische Störfelder aus. Beim Test mit handelsüblichen ESD-Generatoren ist nicht nachvollziehbar, ob der Störimpuls nach IEC 61000-4-2 oder die elektrischen oder magnetischen Störfelder die Fehlfunktion des ICs auslösen. Der Mini ESD-Generator P331-2 ist so aufgebaut, dass aus seinem Gehäuse keine elektrischen oder magnetischen Störfelder austreten. Er ist für Messungen an allen Arten von IC-Pins vorgesehen. Insbesonders für die Messung an High-Speed-Interfaces wie USB, LVDS, Ethernet usw.. Als Koppelnetzwerke können spezielle zweipolige induktive oder kapazitive Koppler dienen. An einem einzelnen IC-Pin kann der Bild 1: Probe 331-2 im Einsatz ESD-Generator P331-2 direkt einkoppeln oder über ein einpoliges Koppelnetzwerk. Die Einkoppelnetzwerke sind extern an die Pins der ICs anzuordnen. Mit der P331-2 können ESD- Schutzschaltungen des ICs getestet werden. Mit der Probe P331-2 können die Pulsstörschwellen einzelner IC-Pins ermittelt werden. Jeder beliebiger IC Pin kann einzeln direkt kontaktiert werden. Zur Messung über ein Koppelnetzwerk wird das der Messaufgabe entsprechende Koppelnetzwerk am IC-Pin angelötet. Das Verhalten des Schaltkreises gibt Aufschluss über die Störfestigkeit des jeweiligen Pins. Versorgt und gesteuert wird die Probe P331-2 von der Burst Power Station BPS 203. Über die Steuersoftware BPS-Client können die Pulsspannung, Pulsfrequenz und die Pulsform stufenlos verändert werden. Der eingekoppelte ESD-Puls ist somit genau definiert und jederzeit reproduzierbar. Somit kann die Störfestigkeit des ICs an jedem einzelnen Pin genau gemessen werden. Für den Messplatz eines Test-ICs wird weiterhin die IC-Testumgebung TS 1002 benötigt. Je nach Messaufgabe werden weitere Zusatzgeräte erforderlich (Oszilloskop, PC). Langer EMV Technik www.langer-emv.com Bild 2: Messplatz mit P331-2, IC-Testumgebung TS 1002 und externen Geräten 28 hf-praxis 2/2015

EMV EMV-Materialien aus einer Hand ● EMV- und Umwelt-Dichtungen (bis IP69k) ● verschieden dotierte Silikone+Fluorsilikone ● EMV-Fenster + Folien ● verschiedenste metallisierte Gewebe Bild 3: Leitungsgebundene ESD-Einkopplung mit der P331-2 nach Norm IEC 61000-4-2 direkt in IC-Pins. Pulsspannung: ± 0,1 - 9,5 kV, Pulsfrequenz 0,1 - 10 Hz, Pulsform 0,7/60 ns, Energiespeicherkapazität 150 pF, Entladewiderstand 330 Ohm ● auch Dispensing in x-y-z Achsen EMV-Dichtungen Bild 4: Allgemeine Kennlinie EMV-Container, aufblasbar EMV-Fenster und -Folien Bild 5: Ersatzschaltbild P331-2 Beim Messaufbau befindet sich das zu prüfende IC auf einer IC-Testleiterkarte. Es bestehen gefilterte Verbindungen zu einem darunter liegenden Connection- Board. Das Connection-Board realisiert die Steuerung, das Monitoring sowie die Stromversorgung des Test-ICs. Mit dem Connection- Board CB 0708, der Groundplane GND 25 und den entsprechenden IC-Adapterleiterkarten bietet die Langer EMV-Technik GmbH das notwendige Messequipment (IC-Testsystem). Vom Connection-Board ist eine genaue Überwachung des ICs mit einem übergeordneten System möglich ◄ 3D-Formdichtungen EMV-Zelte und -Räume hf-praxis 2/2015 29 Infratron GmbH · München 089 / 158 12 60 · www.infratron.de · info@infratron.de

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© beam-Verlag Dipl.-Ing. Reinhard Birchel