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HF-Praxis 8/2014

EMV Entwicklungssystem

EMV Entwicklungssystem für Störfestigkeit Das Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 ist ein ausgereiftes Werkzeug für Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen (Burst/ ESD) von Baugruppen. Es ist auf die Entwicklungsbegleitung zugeschnitten. Der Entwickler kann damit an seinem Arbeitsplatz Geräte/Baugruppen entstören oder weiter härten, indem er die direkten Ursachen von Störfestigkeitsproblemen aufklären und Gegenmaßnahmen in ihrer Wirkung direkt testen kann. Die Analyse der HF-Quellen erfolgt in vier Messschritten, wie dem gezielten Einstören mit der Magnetfeldquelle BS 04 DB und gleichzeitiger Signalüberwachung über LWL mit dem Sensor S31 am Impulsdichtezähler des SGZ 21. Die Störfestigkeitsuntersuchung einer Baugruppe nach der Norm IEC 61000-4-4 und IEC 61000-4-2 ist ein vorteilhafter Ausgangspunkt für die Härtung des Prüflings mit dem E1. Die während der Prüfung nach Norm vom Standard-Burstgenerator erzeugten Störgrößen werden auf die Zuleitungen des Prüflings gekoppelt und fließen über Masse zum Generator zurück. Dabei fließen die pulsförmigen Störgrößen auf unbekannten Wegen durch die Gerätebaugruppe. Im Gerät trifft ein unbekannter Anteil dieser Störgrößen auf eine unbekannte Störsenke und generiert einen Funktionsfehler. Der Entwickler weiß nicht, ob und wo der Störstrom mit seinem Magnetfeld in einer Leiterzugschleife einen Spannungsimpuls induziert oder elektrisches Feld kapazitiv in empfindliche Leitungen einkoppelt. Aus dem im Normtest auftretenden Fehlerbild lässt sich nicht ablesen, wo genau die Schwachstelle im Prüfling ist. Das entscheidende Ergebnis beim nicht bestandenen Test nach Norm ist die genaue Kenntnis des aufgetretenen Fehlerbildes. Anschließend erfolgt die Ursachenforschung mit dem E1 am Arbeitsplatz des Entwicklers, wobei die Funktionsfehler aus dem Fehlerbild die Orientierung für die Entstörung vorgeben. Entscheidend für das Lokalisieren von EMV-Schwachstellen ist die selektive Einspeisung von Störstrom in einzelne Abschnitte eines Prüflings (Störstromwege) und das Beaufschlagen ausgewählter Gebiete der Baugruppenoberfläche mit elektrischen oder magnetischen Pulsfeldern. Gleichzeitig kann während der Beaufschlagung mit Pulsstörungen eine rückwirkungsfreie Signalüberwachung mittels LWL erfolgen. ■ Langer EMV Technik GmbH www.langer-emv.de Alleskönner für Emissionsmessungen und EMV-Analysen Die innovative Messgeräteserie TDEMI von Gauss Instruments vereint unterschiedliche Funktionalitäten und Vorteile verschiedener Messgeräte. In einem einzigen Gerät sind EMV-Messempfänger, Spektrumanalysator, Realtime-Spektrumanalysator, Echtzeitspektrog ramm und Knackratenanalysator zusammengeführt und bietet darüberhinausgehend zahlreiche weitere Analysetools und Erweiterungsmäglichkeiten. Damit sparen Anwender im Labor nicht nur Zeit aufgrund der schnellen Technologie der TDEMI-Messgeräte, sondern außerdem auch Platz und weitergehenden Aufwand und Kosten, wie z.B. routinemäßige Kalibrierungen, da mit dem TDEMI nur noch ein Gerät kalibriert werden muss. Diese Kombination von Messempfänger sowie Knackratenanalysator nach CISPR 16-1-1 und den genannten weiteren Auswertmöglichkeiten spart damit bares Geld. Bei dem integrierten TDEMI Knackratenanalysator nach CISPR 14 erfolgt die Messung leitungsgeführt nach CISPR 16-2-1 an vier Frequenzpunkten gleichzeitig. Hierdurch wird die Messzeit nochmals deutlich reduziert im Vergleich zu herkömmlichen Messempfängern oder Knackratenanalysatoren, bei denen die einzelnen Frequenzpunkte sequentiell nacheinander gemessen werden müssen. Bei der TDEMI-Knackratenanalyse wird jeweils das aktuelle Signal an allen vier Frequenzpunkten gleichzeitig sowohl als Spitzenwert und auch als Quasispitzenwert gemessen und in Echtzeit angezeigt. Ganze Betriebszyklen, wie die unterschiedlichen Programme von Waschmaschinen, können damit ohne viel Aufwand vollautomatisiert aufgenommen und analysiert werden. Die Auswertung erfolgt automatisch, und aus den Messdaten kann im Anschluss ebenso automatisiert ein Messprotokoll erzeugt werden, welches optional auch die Messkurven aller Einzelvorgänge enthält. Sämtliche Messwerte werden während der Messung vollständig gespeichert und mit beiden Detektoren ausgewertet. Somit kann auch nach Abschluss der Messung jede einzelne Störung aus einer Liste ausgewählt und das ZF-Signal sowie das Ergebnis des Quasispitzenwerts nachträglich noch angezeigt werden. Eine zweite Messung oder Nachmessung einzelner Ereignisse ist somit nicht mehr notwendig, daraus resultiert eine Reduktion der Testzeiten Ihrer Knackratenanalyse um den Faktor 8. Die Produktfamilie TDEMI bietet für jeden Anwender das passende Gerät, egal ob klein und kompakt, ultramobil, höchste Performance oder eine Frequenzabdeckung bis 40 GHz. Mit zusätzlich erweiterbaren Features wird der TDEMI zum wahren Alleskönner für Labor oder Testzentrum. ■ Gauss Instruments GmbH info@tdemi.com 28 hf-praxis 8/2014

K N O W - H O W V E R B I N D E T Highend-Zweileiter-EMV-Filter mit sehr geringen Ableitströmen EMV EMV, WÄRME- ABLEITUNG UND ABSORPTION SETZEN SIE AUF QUALITÄT Die TDK Corp. vertreibt jetzt, neben dem eigenen Spektrum an Zweileiter-EMV-Filtern für TDK-Lambda-Stromversorgungen, auch dazu kompatible Zweileiter-Filter der Serie SIFI sowie IEC- Steckerfilter von Epcos. Maßgeschneiderte Produkte nach indi viduellen Vorgaben für kunden spezifische Anwendungen, hergestellt mittels modernster Technologie, stehen für uns im Vordergrund. Mehr als 25 Jahre Erfahrung, qualifizierte Beratung und applikative Unterstützung unserer Kunden sowie namhafte Kooperationspartner sind die Bausteine für unseren Erfolg. Zeichnungsteile mittels Schneidplotter Stanzteilherstellung mittels Hoch leistungsstanze Zuschnitt „cut to length“ Hintergrund: Selbst wenn eine Stromversorgung die EMV-Richtlinien erfüllt, werden zusätzliche EMV-Filter benötigt, falls die Last Störungen verursacht – etwa bei Motoren oder drehzahlveränderbaren Antrieben. Von solchen Lasten verursachte Störungen liegen oft in einem anderen und meist auch höheren Frequenzbereich als dem, für den die EMV-Filter in Stromversorgungen ausgelegt sind. In einigen Applikationen werden auch mehrere Stromversorgungen eingesetzt, was aufgrund leitungsgebundener Störungen zu Fehlern bei EMV-Tests führen kann. Lange Leitungsschleifen wiederum wirken wie Antennen, die Störstrahlung aussenden und die Applikation selbst, wie auch andere externe Elektronik stören können. Highend-Epcos-EMV-Filter für den industriellen Einsatz umfassen unter anderem die SIFI-Serie. Hierbei handelt es sich um ein standardisiertes modulares System aus fünf Produktlinien mit unterschiedlichen Einfügedämpfungen und Anschlusskonfigurationen. Darüber hinaus sind Versionen mit Ableitströmen von nur 2 µA für die Medizintechnik verfügbar. Alle SIFI-Filter bieten eine sehr hohe Unterdrückung von symmetrischen wie unsymmetrischen Störungen. Angeboten werden die Filter in den Ausführung F, G und H für normale, erhöhte und sehr hohe Einfügedämpfungswerte bei einer Impedanz von 50 Ohm. Die Ausführung für die Medizintechnik eignet sich für Ultraschall- und Röntgengeräte sowie alle anderen Diagnosegeräte, bei denen ein geringer Ableitstrom von entscheidender Bedeutung ist. Die Zulassungen nach UL, cUL und ENEC sind beantragt. Angeboten werden nun auch bewährte Epcos-IEC-Steckerfilter in der Standardausführung B48771 sowie in der Version B8473, die über eine integrierte Sicherung verfügt. Abgerundet wird das Spektrum durch die Serie B84776 mit einem zweipoligen Netzschalter für Phase und Nullleiter. Alle drei Serien werden für Nennströme von 1 bis 20 A bei 250 V AC angeboten und entsprechen der Klimakategorie 25/85/21 nach IEC 60068-1. Auch diese Filter sind in einer Ausführung für die Medizintechnik mit einem maximalen Ableitstrom von 2 µA verfügbar. Die IEC- und SIFI-Filter sind für eine maximale Temperatur von 85 °C ausgelegt, RoHS-kompatibel und UL/CSA zugelassen. Die Serie B84771 ist bereits nach ENEC zugelassen, für die Serien B84773 und B84776 wurde diese Zulassung beantragt. ■ TDK-Lambda Germany GmbH www.de.tdk-lambda.com Hohe Straße 3 61231 Bad Nauheim T +49 (0)6032 9636-0 F +49 (0)6032 9636-49 info@electronic-service.de www.electronic-service.de Herstellung von O-Ringen Zuschnitt von Rollenware Stanzteilherstellung mittels Swing-Beam- Presse Zuschnitt mittels Wasserstrahltechnik ELECTRONIC SERVICE GmbH hf-praxis 8/2014 29

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