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10-2018

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Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik

EMV Fortgeschrittene

EMV Fortgeschrittene Techniken für Messungen von Störemissionen In diesem Artikel werden die Grundlagen von Störemissionsmessungen besprochen und es wird gezeigt, wie sich die angewandten Parameter auf die Detektionsleistung auswirken können. Quelle: Advanced Techniques for Spurious Measurements with R&S FSW-K50, White Paper Rhode & Schwarz, 1EF97, 2018, www.rohde-schwarz. com/appnote/1EF97 übersetzt und gekürzt von FS Produkte, auf die Bezug genommen wird: R&S®FSW R&S®FSW-K50 CelsiStrip ® Thermoetikette registriert Maximalwerte durch Dauerschwärzung. Bereich von +40 ... +260°C GRATIS Musterset von celsi@spirig.com Kostenloser Versand ab Bestellwert EUR 200 (verzollt, exkl. MwSt) www.celsi.com www.spirig.com Die Suche nach Störemissionen mit Spektrumanalysatoren gehört zu den anspruchsvollsten Messungen bei der Entwicklung, Verifizierung und Fertigung von HF- und Mikrowellengeräten. HF-Entwickler, insbesondere in den Bereichen Luftfahrt und Verteidigung, müssen Störemissionen mit einem sehr niedrigen Pegel detektieren. Es sind sehr schmale Auflösungsbandbreiten erforderlich, um Messungen bei geringem Grundrauschen durchzuführen. Dadurch erhöht sich die Messzeit. Selbst mit sehr schnellen Spektrumanalysatoren kann eine Störemissionssuche mehrere Stunden oder sogar Tage dauern. In der Messapplikation Option R&S FSW-K50 Spurious-Messungen kommt eine neue Technik zum Einsatz, mit der sich die Störemissionssuche beschleunigen und einfacher konfigurieren lässt. Grundlagen Störemissionen sind unerwünschte Aussendungen innerhalb und außerhalb der Nutzbandbreite. Sie mit Spectrum Analyzern festzustellen, ist eine essentielle Messung bei Design, Verifikation und Production von HF- und Mikrowellen-Geräten, wie Radar-Sendern oder Satelliten-Up- und -Down-Konvertern. Besonders bei Luftfahrtund Wehrtechnik-Applikationen ist es oft erforderlich, strenge Vorgaben einzuhalten. Daher ist Bild 1: Auswahl von einem Sample, das dargestellt werden soll, in Abhängigkeit vom eingesetzten Detektor [1] 16 hf-praxis 10/2018

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