11-2018

Messtechnik Neue Version

Messtechnik Neue Version LabVIEW 2018 veröffentlicht • Zugriff auf ausgewählte Online- Schulungen und virtuelle Demos rund um die Uhr • Zugriff auf ältere Softwareversionen, um Programmcode Anderen bereitstellen zu können Changelog Das Changelog zur neuen Version umfasst folgende Punkte: • Anpassen eines verformbaren VIs für verschiedene Datentypen • Ausführen von Operationen über die Befehlszeilenschnittstelle für LabVIEW • Aufruf von Python-Code über LabVIEW • Erweiterungen des Application Builder • Verbesserungen der Umgebung • Verbesserungen im Blockdiagramm • Verbesserung im Frontpanel • Neue und geänderte Eigenschaften und Methoden Das LabVIEW Tools Network bietet Zugriff auf zertifizierte Zusatzpakete von Drittanbietern für ein noch effizienteres Arbeiten. NI LabVIEW ist in vielen NI-Software-Suites enthalten, sodass komplette Softwaresysteme für verschiedene Zielanwendungen erstellt werden können. ◄ AMC - Analytik & Messtechnik GmbH Chemnitz info@amc-systeme.de www.amc-systeme.de Im Mai 2018 wurde durch NI die neue Version von LabVIEW und LabVIEW NXG 2.0 veröffentlicht. Diese grafische Systemdesignsoftware vereinfacht die Entwicklung verteilter Prüf-, Mess-, Steuerund Regelsysteme und beschleunigt die Markteinführung von Anwendungsapplikationen. LabVIEW 2018 kann mit bewährter, handelsüblicher und anpassbarer Hardware von NI, Advantech, Meilhaus Electronic, Gantner Instruments und auch anderen Herstellern kombiniert werden. Mit der neuen Version von NI LabvIEW NXG 2.0 werden jetzt weitere Datenerfassungsprodukte unterstützt. Sie ist weiterhin Bestandteil in den Lizenzpaketen von LabVIEW. Bei Erwerb einer neuen Lizenz stehen drei Grundversionen zur Auswahl: NI LabVIEW Base Edition • Empfohlen für Desktop-Messanwendungen • Enthält Gerätetreiber für Hardware von NI und Drittanbietern • Ermöglicht Basismathematik und grundlegende Signalverarbeitung • Umfasst LabVIEW NXG Base Edition NI LabVIEW Full Edition • Empfohlen für anspruchsvolle Mathematik und Inline-Signalverarbeitung • Erforderlich für Zusatzpakete für die Signalverarbeitung • Erforderlich für echtzeitfähige und FPGA-Hardware • Umfasst LabVIEW NXG Full Edition NI LabVIEW Professional Edition • Empfohlen für Anwendungen mit Codevalidierung • Enthält Funktionen für die Codeund Anwendungsverteilung • Enthält Zusatzpakete für die Softwareentwicklung • Umfasst LabVIEW NXG Professional Edition Standard Service Programm (SSP) Kunden mit bestehenden SSP Verträgen ( Standard Service Programm ) haben bereits die Information zur neuen Version per E-Mail erhalten. Der Servicevertrag kann bei Erwerb einer neuen Lizenz auf bis zu 3 Jahre mit einem Preisvorteil gegebenüber drei einzelnen Jahren erweitert werden. In NI LabVIEW ist bei Kauf zunächst eine einjährige Mitgliedschaft im NI Standard Service Programm enthalten, die die folgenden Vorteile bietet: • Support durch Applikationsingenieure am Telefon und per E-Mail • Automatische Versions-Updates für LabVIEW und LabVIEW NXG Mobile Online- Diagnoselösung Mit MemoView stellt Knick eine mobile Online-Diagnoselösung für Memosens bereit, mit der sich die Sensoren direkt im Prozess und ohne Trennung der Sensor-Transmitter-Verbindungen überprüfen lassen. Das Gerät zum Anschluss an die tragbaren Portavo-Analysenmessgeräte liest alle Daten und Messwerte der Memosens- Sensoren im laufenden Betrieb aus und überträgt sie zur Visualisierung, Verarbeitung und Speicherung an das Portavo-Gerät. Damit eignet sich MemoView optimal zur Wartung und Messwertkontrolle von Messstellen, die über keine festen Anzeigeeinheiten mehr verfügen. • Knick Elektronische Messgeräte GmbH & Co. KG info@knick.de www.knick.de 30 PC & Industrie 11/2018

Fachbücher für die Praxis Digitale Oszilloskope Der Weg zum professionellen Messen Joachim Müller Format 21 x 28 cm, Broschur, 388 Seiten, ISBN 978-3-88976-168-2 beam-Verlag 2017, 47,90 € Das Oszilloskop ist eines der wichtigsten Messgeräte, das in allen Teilgebieten der Elektronik und auch darüber hinaus verwendet wird, um Signalverläufe über der Zeitachse darzustellen. Das in den 1930er Jahren erfundene Gerät hat, speziell in den zurückliegenden letzten zwei Jahrzehnten, eine rasante Weiterentwicklung vom ursprünglich reinen analogen zum volldigitalisierten Konzept erfahren. Mit der Digitalisierung konnten zusätzliche Funktionen realisiert werden, was dem Oszilloskop heute den Zugang zu seither noch nicht abgedeckten Applikationen eröffnet. Das dadurch für den Anwender deutlich gewachsene Hintergrundwissen vermittelt, auf praxis bezogene Weise, das neue Werk. Das digitale Oszilloskop arbeitet unter völlig anderen Rahmenbedingungen, als das vergleichsweise einfache analoge Konzept. Durch die Analog-Digital-Wandlung entstehen Effekte, die bisher beim analogen Oszilloskop völlig unbekannt waren. Beispiele hierzu sind Aliasing oder Blindzeit. Beim Aliasing treten Geistersignale auf, die im ursprünglichen Signalverlauf nicht vorhanden sind. Durch Blindzeiten können relevante Signalereignisse unerkannt bleiben. Um diese und weitere Effekte zu beherrschen sind für den erfolgreichen Einsatz digitaler Oszilloskope entsprechende Kenntnisse ihres internen Funktionsprinzips essentiell. Der inhaltliche Schwerpunkt und die Darstellung von Praxis- Demonstrationen basieren auf einem R&S High-End-Oszilloskop, womit auch Auswirkungen in Grenzbereichen aufgezeigt werden können. Liegen beim Leser Anwendungssituationen vor, die geringeren Anforderungen entsprechen, können die vorgeschlagenen Versuchs parameter auf ein entsprechend reduziertes Maß angepasst werden. Für die Umsetzung der vorgeschlagenen Praxis-Demonstrationen reichen in der Regel das vorhandene Oszilloskop und ein Laborgenerator. Ein Blick in den Inhalt zeigt, in welcher Breite das Thema behandelt wird: • Verbindung zum Messobjekt über passive und aktive Messköpfe • Das Vertikalsystem – Frontend und Analog-Digital-Converter • Das Horizontalsystem – Sampling und Akquisition • Trigger-System • Frequenzanalyse-Funktion – FFT • Praxis-Demonstationen: Untersuchung von Taktsignalen, Demonstration Aliasing, Einfluss der Tastkopfimpedanz • Einstellungen der Dezimation, Rekonstruktion, Interpolation • Die „Sünden“ beim Masseanschluss • EMV-Messung an einem Schaltnetzteil • Messung der Kanalleistung Weitere Themen für die praktischen Anwendungs-Demos sind u.a.: Abgleich passiver Tastköpfe, Demonstration der Blindzeit, Demonstration FFT, Ratgeber Spektrumdarstellung, Dezimation, Interpolation, Samplerate, Ratgeber: Gekonnt triggern. Im Anhang des Werks findet sich eine umfassende Zusammenstellung der verwendeten Formeln und Diagramme. Unser gesamtes Buchprogramm finden Sie unter www.beam-verlag.de oder bestellen Sie über info@beam-verlag.de