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11-2022

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Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik

Messtechnik Vertrieb der

Messtechnik Vertrieb der Testplattformen ABex und LEON in der DACH-Region Zum 14. September 2022 erweiterte die dataTec AG ihr Geschäftsfeld der modularen Messtechnik um den neuen Lieferanten Konrad Technologies und vertreibt in Deutschland, Österreich und der Schweiz die skalierbare PXIe-Testplattform ABex sowie das PXIe/ABexbasierte Testsystem LEON. Konrad Technologies aus Radolfzell ist weltweit tätig mit Niederlassungen in Nordamerika, Europa und Asien-Pazifik. Das Unternehmen entwickelt, konstruiert und integriert kundenspezifische Testlösungen für elektronische Komponenten und Geräte. dataTec AG www.datatec.eu ABex (Analog Bus Erweiterung für PXI) Das ABex-System ist eine Testplattform für komplexe Messaufgaben in der Fertigung, z. B. Funktionstests oder In-Circuit- Tests, mit dem Ziel, die Produktivität zu steigern und die Time-to-Market zu reduzieren. Das System findet Anwendung u. a. in der Automobilindustrie, Luft- und Raumfahrt, Telekommunikation, Medizintechnik oder Elektronikherstellung. Die modulare Systemarchitektur basiert auf der PXIe-Plattform und erweitert diese um eine zusätzliche analogen Bus-Backplane. Mittels sogenannter Terminalmodule wird die Verbindung zwischen den PXIe-Karten und der Analogbus-Backplane hergestellt. Hiermit können Mess-und Stimulisignale über verschiedene Karten hinweg verschalten werden. Konrad Technologies bietet Terminalmodule für zahlreiche Standard-PXI-Messgeräte namhafter Hersteller, sodass Nutzer der ABex-Plattform für sämtliche Testanwendungen eine Systemlösung erstellen können. Die unterstützten PXI-Instrumente umfassen u. a. Digitalmultimeter, Oszilloskope, Signalgeneratoren und Multifunktions-Datenerfassungskarten von NI. Weitere Terminalmodule können auf Anfrage entwickelt werden. Zur Signalverschaltung stehen Analogbus-Module als Matrizen und Schaltkarten zur Verfügung, welche über eine hohe Kanaldichte und einfache Wartbarkeit verfügen. Die hinteren Steckplätze der ABex-Backplane können über spezifische Rear-Module genutzt werden, um auch Nicht- PXI-Instrumente wie spezielle Messgeräte zu integrieren. Die Systemprogrammierung erfolgt über höhere Programmiersprachen einschließlich NI Lab- VIEW, NI LabWindows/CVI, NI TestStand, C# und C++. Die ABex-Erweiterung ermöglicht die drahtlose Verteilung von Mess- und Stimulisignalen im gesamten System. Der Prüfling lässt sich ganz ohne Kabel mit den Schaltmatrizen an die entsprechenden PXI-Messgeräte anschließen. Je nach Anforderung kann das System mit einer speziellen DUT-Schnittstelle (ABex REC-101 Receiver 18) ausgerüstet werden, welche auf Steckverbindern von Virginia Panel Corporation basiert. Die Schnittstelle ermöglicht 20.000 Steckzyklen. Vorteile der ABex-Testplattform: • PXI/PXIe Hybrid Support in allen ABex-Chassis • Skalierbarkeit • einfache Erweiterung mit Schaltmatrizen • flexible Verteilung von Messund Stimulisignalen • optimierte Signalintegrität • schnelle Einrichtung und Inbetriebnahme • robuste DUT-Schnittstelle zum Prüfadapter (Virginia Panel- Technologie) • kombination von Funktionstest, In-Circuit-Test, In-System-Programming in einem System LEON In-Circuit Testsystem Die LEON Testerfamilie ist eine PXIe/ABex basierte Testplattform für die Realisierung von kombinierten Tests. Hierbei können. In-Circuit-Test (ICT), Funktionstest (FCT), Manufacturing Defect Analysis (MDA), In System Programming (ISP) und Boundary-Scan-Tests (JTAG) in einem einzigen System realisiert werden. Die LEON Testerfamilie ist für maximale Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit konzipiert. Es sind sechs Systemvarianten verfügbar: von der kompakten und kostengünstigsten 4-Slot-Testlösung LEONFixture über Lösungen für Systemintegratoren bis hin zum automatischen Testsystem LEONInline für Inline-Anwendungen in der Massenproduktion. ◄ 48 hf-praxis 11/2022

Messtechnik Digitale Oszilloskope für Design, Debugging und Test Mit der HDO4000-Serie stellt Rigol eine neue Serie von Digitaloszilloskopen vor, die mit vier Kanälen, 12 Bit Auflösung, 500 Mpts Speichertiefe und bis zu 800 MHz Bandbreite punkten. Verbaut darin ist der neue, von Rigol entwickelte Chipsatz Centaurus. Dieser verfügt u.a. über eine hervorragende Echtzeitabtastrate, ein niedriges Grundrauschen, hohe vertikale Genauigkeit und eine hohe Wellenformerfassungsrate. Mit dem UltraAcquire-Modus erreichen die Oszilloskope eine Wellenformerfassungsrate von 1.500.000 Wfms/s und erfüllen hohen Anforderungen an genaue Messungen wie Stromversorgungswelligkeit, Oberwellenanalyse und MOSFET-Prüfung. Auch für die Prüfung komplexer Szenarien wie Low- Power-Tests, Power-Rail-Analysen, Halbleiterprüfungen, Prüfung medizinischer Elektronik usw. eignen sich die Oszilloskope der neuen HDO4000-Serie von Rigol. Sie wurden für Anwendungen im Hochgeschwindigkeits- und High-Signal-Fidelity- Bereich entwickelt und bieten beste Signalvisualisierungsfunktionen für Design und Debugging. Die Geräte arbeiten mit der bewährten, hochleistungsfähigen Ultra- Vision-III-Technologie. Der neue Chipsatz liefert echte 12-Bit-Samples, erlaubt Bandbreiten von 200 bis 800 MHz, eine Echtzeitabtastrate bis 4 GS/ und eine Wellenformerfassungsrate von bis zu 1.500.000 Wfms/s im UltraAcquire-Modus. Weiterhin arbeiten die Geräte mit einem ultraniedrigen Grundrauschen von 18 µV eff Minimum und einem ultrahohen vertikalen Empfindlichkeitsbereich von 100 µV/div, wobei Signale im uV-Bereich ebenfalls genau gemessen werden können. Die Oszilloskope der HDO4000-Serie wurden mit Hinblick auf einen Einsatz in den Bereichen Stromversorgungsprüfungen, Low-Power-Tests, Power-Rail-Tests und Halbleiterprüfungen entwickelt. Bei der Stromversorgungsprüfung ist besonders die vertikale Auflösung von bis zu 12 Bit hilfreich für Restwelligkeitsmessungen und Qualitätstests. Bei Low-Power-Tests profitiert der Anwender besonders von einem ultraniedrigen Grundrauschen von 18 µV eff Minimum. Beim Power-Rail-Test lassen sich dank einer Abtastrate von bis zu 1 GS/s, der vertikalen Auflösung von 12 Bit und einer hohen DC-Verstärkungsgenauigkeit auch kleinste Details erkennen. Für Halbleiterprüfungen sind ebenfalls die hohe Auflösung von 12 Bit und die verbesserte DC-Verstärkungsgenauigkeit von Vorteil. ■ Meilhaus Electronic GmbH www.meilhaus.com Handys in der Schwerelosigkeit untersucht man am besten mit Messtechnik von NI. >>> www.datatec.eu/ni-fallturm hf-praxis 11/2022 49 National Instruments ist jetzt NI.

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