Herzlich Willkommen beim beam-Verlag in Marburg, dem Fachverlag für anspruchsvolle Elektronik-Literatur.


Wir freuen uns, Sie auf unserem ePaper-Kiosk begrüßen zu können.

Aufrufe
vor 5 Jahren

3-2019

  • Text
  • Komponenten
  • Technik
  • Radio
  • Filter
  • Oszillatoren
  • Quarze
  • Emv
  • Messtechnik
  • Bauelemente
  • Antenna
  • Software
  • Amplifier
  • Wireless
  • Array
  • Frequency
Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik

Messtechnik Modulare

Messtechnik Modulare HF-Schaltzentrale für verschiedenste Testszenarien Für die neue Generation der offenen Schalt- und Steuerplattform R&S OSP hat Rohde & Schwarz die Hard- und Software komplett überarbeitet. Sie ist nun für mehr Module und noch kürzere Umschaltzeiten ausgelegt. Mit der R&S OSP kann der Anwender verschiedenste Schalt- und Steuermodule zu einer kostengünstigen und maßgeschneiderten Schaltzentrale für seinen Testaufbau kombinieren. Auch die Module der Vorversion werden von der R&S OSP weiterhin unterstützt. Testsetups für neue Technologien wie 5G Mobilfunk oder moderne Radartechnik erfordern eine Schalt- und Steuertechnik mit großen Frequenzbereichen und kurzen Umschaltzeiten. Deshalb hat Rohde & Schwarz seine Plattform vollständig überarbeitet und präsentiert jetzt die neuen Modellvarianten R&S OSP220/230/320 sowie die neue Satelliten-Box R&S OSP- B200S2. Zu den Besonderheiten der neuen Generation zählt die optional freischaltbare Trigger-Funktion R&S OSP-K100. Über die externen Trigger-Ein- und -Ausgänge ist ein hardwarebasiertes Schalten von vordefinierten Pfaden möglich. Der Anwender kann damit die Schaltzeiten gegenüber einer LAN-basierten Neue Oszilloskop-Serie ist hochintegrativ und flexibel Die neusten Mixed-Signal-Digital-Speicher-Oszilloskope (MSOs) aus dem Hause Rigol sind leistungsstarke Universal-Oszilloskope, die mit der hausintern entwickelten UltraVision-II Oszilloskop-Architektur und dem dazugehörigen Hightech-Chipset Phoenix arbeiten. Die UltraVision-Technologie beschreibt eine Kombination aus tiefem Speicher, hoher Waveform-Capture-Rate, Echtzeit-Waveform-Record und -Replay sowie einem Display mit Multilevel-Helligkeitsabstufungen. Der Phoenix-Chipsatz besteht aus drei ASICs, dem analogen Frontend-Chip Beta Phoenicis (ermöglicht eine Frontend- Bandbreite von bis zu 4 GHz), dem Signal- Processing-Chip Ankaa (unterstützt die Datenerfassung mit 10 GSa/s) und dem Probe-Amplifier-Chip Gamma Phoenicis (unterstützt Differentialtastköpfe bis zu 6 GHz). Die hochintegrativen MSOs der 5000- Serie vereinen jeweils sieben unabhängige Geräte in einem und sind zugleich Digital- Oszilloskop, 16-Kanal-Logik-Analyzer, Spektrum-Analyzer, Arbiträr-Generator, Digitalvoltmeter, Frequenzzähler und Protokoll-Analyzer. Die Mixed-Signal-Digital-Speicher-Oszilloskope der Serie 5000 haben zwei analoge Kanäle (erweiterbar auf vier) und optional 16 zusätzliche Logik/Digital-Kanäle, die die Analyse gemischt analoger/digitaler Schaltungen ermöglichen. Die Bandbreite der Geräte liegt zwischen 70 und 350 MHz, die maximale Samplerate bei 8 GS/s. Die UltraVision-Technologie imponiert mit einem tiefen Speicher von 100 Mpts (optional bis 200 Mpts), einer hohen Waveform-Capture-Rate bis 450.000 Wfms/s, Echtzeit-Waveform-Record und Replay bis 450.000 Frames und nicht zuletzt einem Display mit Multi-Level-Helligkeitsabstufung (256 Stufen) sowie einem Multi-Touch-Screen. Daneben stehen vielfältige Trigger- und Bus-Decoding-Funktionen zur Verfügung (optional, RS232/ UART, I²C, SPI, CAN, LIN, FlexRay, I²S, MILSTD-1553). Als hochintegrative Geräte erfüllen die MSOs der 5000-Serie die unterschiedlichsten Bedürfnisse eines breiten Spektrums an Benutzergruppen. Die komfortabel zu bedienenden Geräte haben eine Vielzahl an Schnittstellen (USB Host&Device, LAN(LXI), HDMI, Trig, Out, USB-GPIB); sie lassen sich per Web- Bedienung fernsteuern und sie sind – falls gewünscht – online upgradebar. Im Lieferumfang enthalten sind auch ein Netzkabel, ein USB-Kabel CB-USBA- USBB-FF-150, zwei oder vier passive Tastköpfe (350 MHz) PVP2350 und ein Quick-Guide (Hardcopy). Zusätzlich sind 16 digitale Probes (PLA2216) erhältlich. Die Angebote sind im Webshop unter www.meilhaus.de zugänglich. ■ Meilhaus Electronic GmbH www.meilhaus.de 58 hf-praxis 3/2019

Messtechnik All-in-One-Lösung für 400GbE-PAM4-BER-Messungen Die Anritsu Corporation gab die Markteinführung ihres 64-Gbaud-PAM4-Puls- Pattern-Generators (PPG) und 32-Gbaud- PAM4- Error-Detektors (ED) bekannt. Die zwei neuen Module für den Anritsu SQA-R MP1900A Signal Quality Analyzer ermöglichen Messungen bis zu 400G für Next-Generation-Breitband-Kommunikationssysteme mit Best-in-Class-Signalqualität und exzellenter Empfindlichkeit des Empfängers. Background: Die Erweiterung von Mobilfunk- und Cloud-Diensten, speziell in 5G, sorgt für eine sehr starke Zunahme des Datenverkehrs. Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, untersuchen Infrastrukturbetreiber, wie z.B. Datencenter, Technologien zur Verbesserungen bei Geschwindigkeit und Datendurchsatz, etwa in PAM4- und Multilane-Kommunikationssystemen. Bereits jetzt kommen 400G-Systeme zum Einsatz, welche entweder als 26.5625-Gbaud-PAM-4x8-Lanes oder als 53.125-Gbaud-PAM-4x4-Lanes realisiert werden. Dafür hat Anritsu den 64-Gbaud-PAM4-Puls-Pattern-Generator entwickelt, der zusammen mit dem neuen 32-Gbaud-PAM4-Error-Detektor die Weiterentwicklung von Komponenten und Geräten zur Übertragung großer Datenmengen bei höchster Geschwindigkeit unterstützt. Im Vergleich zu NRZ-Signalen verringert sich bei PAM4 mit seinen vier Amplituden nicht nur der Abstand zwischen den einzelnen Amplituden auf ein Drittel, sondern auch der Abstand zwischen den Flanken. In der Folge reduziert sich die Marge bei der Abtastung eines PAM4-Signals auf Empfängerseite. Umso wichtiger ist die Generierung eines sauberen PAM4- Signals. Die verschlechterte Signalqualität am Empfänger, verursacht u.a. durch Leitungsverluste, Übersprechen und Rauschen, erfordert eine bestmögliche Empfindlichkeit des Error-Detektors. Der SQA-R MP1900A ist ein Bitfehlerraten-Tester der Spitzenklasse für 400G und höher. Er unterstützt sowohl die Erzeugung als auch die Fehleranalyse schneller Datensignale. Der neue 64-Gbaud-PAM4- PPG hat die weltweit besten Werte sowohl für Anstiegs- und Abfallzeiten (20% bis 80%) von 8,5 ps (typisch) als auch für den Eigenjitter von nur 170 fs (typisch). Pro Gerät können bis zu vier Kanäle betrieben werden. Die integrierte Pre-/Deemphasis- Funktion ermöglicht eine kontrollierte Vorverzerrung des generierten Signals. Das 32-Gbaud-PAM4-Fehlerdetektor-Modul verfügt über eine hohe Empfindlichkeit von 23 mV (typisch) und optional über eine Taktrückgewinnung. Beides ist für die Messung der Empfindlichkeit von Empfängern sowie für PAM4-Symbolfehlermessungen erforderlich. Im Ergebnis lässt sich die wirkliche Performance von optischen 400GbE-Modulen und -Komponenten testen – mit ausreichender Marge und den Spezifikationen entsprechend. Damit lassen sich Schwierigkeiten bei der exakten Evaluierung von Prüflingen vermeiden, welche mit unzureichender Signalqualität zusammenhängen. Außerdem verkürzt die Erweiterbarkeit auf mehrere Kanäle die Messzeiten, indem mehrere Lanes gleichzeitig gemessen werden. Zudem lassen sich problemlos Funktionen zum Generieren von Jitter und Rauschen hinzufügen und damit eine All-in-One-Testlösung zur Prüfung der Empfindlichkeit von Empfängern für höchste Entwicklungs- und Test-Effizienz konfigurieren. ■ Anritsu Corporation www.anritsu.com Ansteuerung noch weiter reduzieren. Notwendig sind solch kurze Schaltzeiten zum Beispiel, wenn die schnellen Halbleiterrelais von Antennenarrays oder Radarmodulen angesteuert werden sollen. Der R&S OSP320 hat für diese Zwecke auf seiner Rückseite einen zusätzlichen digitalen Adresseingang zur direkten Ansteuerung vordefinierter Pfade. Anwender bedienen die neue Gerätegeneration jetzt vollständig über eine neue, web-basierte Oberfläche. Eine separate Software zur Konfiguration einer R&S OSP ist nicht mehr nötig. Zudem passt sich die Darstellung automatisch der gerade verwendeten Bildschirmgröße an. Bei der Bedienung über einen angeschlossenen PC mit großem Monitor werden beispielsweise mehrere Schaltmodule gleichzeitig dargestellt, was die Übersichtlichkeit bei komplexen Verschaltungen erhöht. Relais- Verschaltungen eines oder mehrerer R&S OSPs lassen sich per Pfadsteuerung zusammenfassen. Diese Pfade können auch im Virtual Mode vorkonfiguriert werden, ohne alle Geräte und Module zur Verfügung zu haben. Die neue Familie startet mit den Modellvarianten R&S OSP220/230/320. Sie bieten Kapazitäten von fünf bis maximal zehn Modulschächten in einem Gerät, die sich auf der Vorder- und Rückseite befinden. Dadurch kann der Kunde den Ort der Verkabelung in Abhängigkeit von seinen Anforderungen selbst bestimmen. Zudem lassen sich die Modulschächte anwendungsspezifisch für größere applikationsspezifische Module zusammenfassen. Da die bisherigen R&S-OSP- Module auch für die neue Gerätegeneration eingesetzt werden können, steht mit der Markt einführung ein umfassendes Modulprogramm zur Verfügung. Es enthält HF-Relais wie elektromechanische Koaxialrelais bis 67 GHz und Solidstate- Relais sowie digitale I/O- und Multiplexer-Module. Die neue Schalt- und Steuereinheit kann der Anwender als Tischgerät für Labormessungen einsetzen oder als Schaltzentrale für komplexe rack-basierte Testsysteme. Über das LAN ist es möglich, mehrere R&S OSPs nach dem Master- Slave-Verfahren zu einem komplexen Schaltnetzwerk mit 20, 50 oder mehr Relais zusammenzufassen. Ergänzend dazu gestattet die kompakte R&S-OSP-B200S2- Satelliten-Box einen abgesetzten Betrieb zum Beispiel in einer Schirmmesskammer. Die Box verlagert die Schalt- und Steuervorgänge hin zum Messobjekt oder zu den Antennen. Dies reduziert die Anzahl längerer HF-Kabel, verbessert die HF-Eigenschaften des Aufbaus und spart Kosten. Je nach Anwendung erfolgt die Ansteuerung der Box über ein serielles elektrisches Buskabel oder eine Lichtwellenleiter-Verbindung. Die neue Generation der Schaltund Steuerplattform R&S OSP ist ab sofort bei Rohde & Schwarz erhältlich. ■ Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG www.rohde-schwarz.de hf-praxis 3/2019 59

hf-praxis

PC & Industrie

© beam-Verlag Dipl.-Ing. Reinhard Birchel