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4-2013

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HF-Praxis 4/2013

Messtechnik Neue

Messtechnik Neue PC-Oszilloskope mit USB 3.0-Schnittstelle Pico Technology hat nach eigenen Angaben die weltweit ersten PC-Oszilloskope mit USB-3.0-Schnittstelle auf den Markt gebracht. Die meisten neuen Computer und Laptops verfügen über diesen Anschluss. Die neuen USB-3.0-PicoScopes ermöglichen eine deutlich schnellere Erfassung und Übertragung großer Datenmengen als bisher. Das PicoScope 3207A hat zwei Kanäle mit 250 MHz Bandbreite, eine Abtastrate von 1 GS/s, 256 MS Pufferspeicher und integrierten Funktionsgenerator. Die Grundgenauigkeit der Zeitbasis beträgt 2ppm. Weitere Merkmale sind die digitale Triggerung für eine präzise, stabile Wellenformanzeige und die Echtzeitabtastung, mit der sich die effektive Abtastrate für wiederholte Signale auf bis zu 10 GS/s erhöhen lässt. Das PicoScope 3207B verfügt über 512 MS Pufferspeicher und einen zusätzlichen Generator für anwenderdefinierte Wellenformen mit bis zu 32.000 Abtastungen und einer Aktualisierungsrate von 100 MS/s. Es wird kein zusätzliches Netzteil benötigt. Die Oszilloskope werden mit der PicoScope- Software für Windows geliefert. Die Software bietet viele erweiterte Funktionen, wie automatische Messungen, die serielle Entschlüsselung von RS-232/UART-, SPI-, I2C-, CAN-, LIN- und FlexRay-Daten und Maskengrenzprüfungen. Softwareaktualisierungen sind kostenlos, ein kostenloses Software Development Kit (SDK) ermöglicht es Anwendern, eigene Datenaufzeichnungsprogramme zu entwerfen. Das Kit wird mit Beispielcode in mehreren Programmiersprachen geliefert. ■ Pico Technology www.picotech.com Testlösungen für LTE- Sprachanwendungen und LTE-Advanced Beim diesjährigen MWC im Februar standen Systeme für LTE, LTE-Advanced und LTE-Service-Assurance-Lösungen auf dem Anritsu-Stand im Mittelpunkt. Vorführungen demonstrierten diese Möglichkeiten und die Zukunft von LTE und LTE-A sowie die Auswirkungen dieser neuen Technologien. So etwa eine Vorführung des Signaltesters MD8430A mit der neuen Lösung auf RTD-Basis (Rapid Test Designer) für VoLTE-Dienste. Diese Technik ist in der Praxis bereits eingeführt worden und bewährt sich als eine Komplettlösung für IMS- und LTE-Signalisierung in einer gemeinsamen Umgebung. Auf derselben Testplattform führte Anritsu außerdem umfassende Testmöglichkeiten für LTE-Advanced mit Carrier Aggregation vor. Die Carrier-Aggregation-Technologie wurde auch im Zusammenhang mit Lösungen für Konformitätsprüfungen in den Bereichen HF und Protokoll gezeigt. Der kompakte Signalling-Tester MD8475A dient als effiziente, hochintegrierte Testlösung dafür, dass ein Mobilgerät den Entwicklungsspezifikationen entspricht, sowie zur Überprüfung der Audioqualität und Batterielebensdauer eines Endgeräts. Der unlängst eingeführte tragbare MW82119A PIM Master bietet den Technikern, die PIM in schwer zugänglichen Bereichen messen sollen, eine Lösung mit einem 40-W-Test zur Messung zwischen Kabel und Antenne. Diese Funktion ist ein einzigartiges Merkmal der Anritsu Distance-to-PIM-Technologie. PIM-Quellen innerhalb der Antennenanlage können die Netzwerkleistung erheblich beeinträchtigen, wenn sie nicht ermittelt werden. Daher ist dieses tragbare Gerät an schwer zugänglichen Standorten, z.B. bei Remote-Radio-Head-Anlagen (RRH) und Indoor-Antennenverteilanlagen (DAS), eine ideale Lösung. ■ Anritsu Corp. www.anritsu.com 24 hf-praxis 4/2013

RF- und Mikrowellen- Messtechnik neu definiert Modulare Hardware und offene Software Erhöhen Sie Geschwindigkeit, Präzision und Flexibilität Ihrer Testanwendungen im RF- und Mikrowellenbereich mit der modularen Hardware und der offenen Software von National Instruments. Im Gegensatz zu traditionellen Messgeräten, die aufgrund des technologischen Fortschritts schnell veraltet sind, setzen Sie mit der Systemdesignsoftware NI LabVIEW und NI-PXI-Hardware die aktuellsten Technologien bei PC-Bussen, Prozessoren und FPGAs ein. WIRELESS-TECHNOLOGIEN National Instruments unterstützt zahlreiche Wireless-Standards, darunter: LTE 802.11a/b/g/n/ac WCDMA/HSPA/HSPA+ GSM/EDGE CDMA2000/EV-DO Bluetooth >> ni.com/redefine 089 7413130 © 2013 | National Instruments, NI, ni.com und LabVIEW sind Marken der National Instruments Corporation.

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