4-2025

QualitätssicherungHochpräzise Flying-Probe-TesterAPT-2400F und APT-2600FD sind die neusten leistungsstarken Flying-Probe-Systeme aus dem Hause TAKAYA.Erweiterte elektrische TestfunktionenEs stehen umfassende elektrische Prüfverfahrenzur Verfügung, darunter In-Circuit-Tests,Funktionstests und Open/Short-Erkennungen.Neuentwickelte Temperatursensoren erfassentemperaturabhängige Bauteile und Halbleiter, umfehlerhafte oder falsch bestückte Komponentenpräzise zu identifizieren. Eine hochauflösende16-Bit-Messtechnik, 4-Quadranten-Spannungsversorgungenund ein programmierbarer AC-Generator gewährleisten auch bei komplexenFunktionsprüfungen exakte Ergebnisse. In derSL-Version können die APT-Flying-Prober Leiterplattenformatebis 985 × 610 mm verarbeitenund sind somit für vielfältige Anwendungen inEntwicklung und Produktion geeignet.Die hochpräzisen Tester sind speziell auf dieAnforderungen der miniaturisierten Elektronikfertigungausgelegt und überzeugen durchein modulares Gesamtkonzept. Die Systemesind sowohl als Stand-Alone- als auch In-Line-Version erhältlich und bieten maximale Flexibilität,Präzision und Testtiefe.Die TAKAYA-Systeme basieren auf einem einzigartigenmechanischen Konzept mit sechs Achsenund zehn Prüfnadeln, von denen vier vertikalangeordnet sind. Diese Struktur ermöglichtgezielten Zugriff auf schwer erreichbare Kontaktstellen,etwa zwischen hohen Bauteilen oderan Steckverbindern, und erhöht damit die Prüfabdeckungsignifikant.Anatomie und MöglichkeitenDie APT-2400F ist ein einseitiges Test systemmit vier Achsen und sechs Prüfnadeln, wobei vierProben abgewinkelt und zwei vertikal sind. Miteiner minimalen Kontaktfläche von nur 50 µmsind auch hochdichte HDI-Leiterplatten problemlostestbar.Für komplexere Prüfanforderungen bieten dieSysteme, insbesondere der beidseitige TesterAPT-2600FD, erweiterte Funktionen. Die beidseitigePrüfung spart Zeit, da der Wendevorgangentfällt, erweitert die Testabdeckung und erhöhtdie Prüftiefe. Das Multiprobe-System erlaubt dengleichzeitigen Kontakt mit mehreren Prüfpunktenauf der Unterseite und unterstützt damit dieIntegration von In-System-Programming (ISP).SYSTECH EUROPE GmbHinfo@systech-europe.dewww.systech-europe.deEin Laser misst die Oberflächenhöhe von Leiterplattenund Bauteilen, erleichtert die Erkennungvon Defekten wie angehobenen Bauteilen, unddas System passt Koordinaten automatisch anLeiterplattenverformungen an, um Prüfstabilitättrotz mechanischer Toleranzen sicherzustellen.Schonende Kontaktierungund moderne BildverarbeitungDie neuen Systeme sind mit der „Zero-ImpactProbe Control“ ausgestattet. Diese Steuerungreduziert die Geschwindigkeit der Prüfnadelnunmittelbar vor dem Kontakt auf Null und ermöglichtso eine Kontaktierung ausschließlich überden Federdruck der Messnadeln. Dadurch wirdeine besonders schonende und präzise Prüfungselbst empfindlichster Bauteile gewährleistet.Zudem verfügen die Systeme über modernsteKameratechnologie. Das integrierte CMOS-Kamera system mit Flüssiglinse unterstützt Autofokus,3D-Real-Map-Visualisierung sowie OCR.Eine separate Remote-Kamera überwacht diePrüfprozesse in der Fertigung und ermöglichtRemote-Debugging. Zum Testspektrum zählenoptische Verfahren wie OCR, Barcode- undBauteil erkennung sowie Polarisations prüfung.Ein spezieller LED-Farbsensor analysiert zuverlässigFarbton, Sättigung und Leuchtdichte.Industrie-4.0-Anbindungund wirtschaftliche VorteileDamit die leistungsstarke Prüftechnologieihr volles Potenzial entfalten kann, ist die APT-Serie optimal auf moderne Fertigungsumgebungenabgestimmt. Standardisierte Schnittstellen,wie SMEMA, IPC-HERMES-9852 undOPC UA, ermöglichen eine nahtlose Integrationin Industrie-4.0-Prozesse. Ein automatischesReinigungssystem hält die Nadeln freivon Verunreinigungen und gewährleistet stabilePrüfergebnisse. Die benutzerfreundliche Softwareerlaubt eine unkomplizierte Prüfprogrammerstellungauf Basis gängiger CAD-Formatewie ODB++.Die Serie ist für den Dauerbetrieb ausgelegtund bietet eine Z-Achsen-Beschleunigungvon bis zu 50 G. Sie verbindet höchste mechanischePräzision mit energieeffizientem Betrieb.Durch die flexible Bauweise und die hohe Prüfgenauigkeittragen die Systeme maßgeblich zurSenkung der Testkosten vom Prototyp bis zurMassen produktion bei, bei gleichzeitiger Verbesserungder Produktqualität und -zuverlässigkeit.FazitMit den Serien APT-2400F und APT-2600FDpositioniert sich SYSTECH Europe als verlässlicherTechnologiepartner für automatisierte Testlösungenin der europäischen Elektronik fertigung.Fachbesucher können sich auf der productronica2025 in Halle A1, Stand A1.239 detaillierte Einblickein beide Systeme verschaffen. ◄32 4/2025

QualitätssicherungInnovativer LED-Test ohne LichtwellenleiterHalle A1, Stand 255SPEA GmbHwww.spea.comSPEA stellt auf der productronicain Halle A1 Stand 255 das neue TestsystemT100L vor. Der Tester wurdespeziell für die kostengünstige undflexible Prüfung von großen LED-Boards und -Panels entwickelt.Innovativ ist die Verwendung eineroder mehrerer Spektralkameras stattteurer Adapter mit Licht wellenleiternund Sensoren.Die Kamera erfasst und analysiertmit einer Geschwindigkeit von 200mm/s in Echtzeit alle LEDs im Testbereich.Die Testgeschwindigkeit istdabei unabhängig von der Anzahlder LEDs. Die Kamera hat einenSpektralbereich von 448 Bändernim sichtbaren und nahen Infrarotspektrumund eine Auflösung von130 x 130 µm.Der T100L bietet eine höherePrüftiefe und exakte reproduzierbareErgebnisse. Die Testergebnissewerden nicht durch Streulichtoder mechanische Ablenkungen –wie sie bei Lichtwellenleitern auftreten– verfälscht.Der Tester überprüft folgendeParameter: Lichtintensität, Lichtstärke,Lichtstrom, prozentualerRot-Grün-Blau-Wert, XY-Koordinaten,HSL (Farbton/Sättigung/Helligkeit), Farbtemperatur, Farbwiedergabeindex,Spektrum unddominante Wellenlänge. Auchein LED-Binning-Test wird durchgeführt.Der T100L ist inline-fähigund in verschiedenen Ausbau stufenkonfigurierbar. ◄Automatic Test Systems• Incircuit Test• Function Test• Boundary Scan Test• AOI Test• Stand alone - Systems• Inline - Systems• CustomizingIn-Circuit-Funktionstestsystemeund Adaptionen für FlachbaugruppenIn-Circuit-Funktionstestsysteme undIn-Circuit-Funktionstestsysteme undIn-Circuit-Funktionstestsysteme Adaptionen für FlachbaugruppenAdaptionen für FlachbaugruppenundAdaptionen für FlachbaugruppenIn-Circuit-Funktionstestsysteme undAdaptionen für FlachbaugruppenBesuchen Sie uns auf derCT350 Comet T - eine Klasse für sich- skalierbare Modultechnik, flexibel konfigurierbar- einheitliches Software-Paket und Bussystem> Testerressourcen nach Bedarf, geringe Kosten▷ seit 1979 Testsysteme im Einsatz für Groß serien, auch Inline, Kleinstserien,Instandsetzung und Entwicklung▷ schnelle, praxisnahe und anwenderfreundliche Testprogrammerstellung▷ seit 1979 Testsysteme im Einsatz für Groß serien, auch Inline, Kleinstserien,Besondere Eigenschaften▷ seit ▷1979 grafi Testsysteme sche Fehlerortdarstellung, im Einsatz für auch Groß im serien, Boundary auch Scan-Test Inline, Kleinstserien,Instandsetzung ▷ breites Spektrum Instandsetzungund EntwicklungStimulierungs- und und EntwicklungMessmodulen (Eigenentwicklung)- Incircuit Test, Funktionstest, AOI-Funktionen und Boundary Scan Test ▷ Feldbussysteme, ▷ schnelle, Flash-Programmierung, praxisnahe und Einbindung anwenderfreundliche externer Programme Testprogrammerstellung▷ schnelle, praxisnahein einem Testsystem mit leistungsfähiger Testsequenzer-Software▷und seit 1979 anwenderfreundliche Testsysteme im Einsatz Testprogrammerstellung▷ Auswertung für Groß serien, auch Inline, Kleinstserien,▷ grafi sche Fehlerortdarstellung,▷ grafi von Analog-/Digitalanzeigen, sche Fehlerortdarstellung, Dotmatrix,Instandsetzung auch im und Boundaryauch LCD/LED,Entwicklung Scan-Testim Boundary OLED,… Scan-Test- sehr schnelle Inline-, Nutzen- und Paralleltests▷ CAD-Schnittstelle, ODBC-Schnittstelle, Qualitätsmanagement▷ breites Spektrum ▷ breites an ▷Stimulierungs- Spektrum anschnelle, praxisnahe und Stimulierungs- Messmodulen und anwenderfreundliche (Eigenentwicklung)und Messmodulen (Eigenentwicklung)Testprogrammerstellung- Mixed Signal-Tests, bis zu 1.5 GS/s digital, 5 GS/s analog▷ manuelle und pneumatische Prüfadapter aus eigener Entwicklung▷ Feldbussysteme, ▷ Feldbussysteme, Flash-Programmierung, ▷ grafi sche Fehlerortdarstellung, Flash-Programmierung, Einbindung auch externer im Boundary Einbindung Programme Scan-Test externer Programme▷ Prüfadaptererstellung in einem halben Tag mit Adapterkonstruktions- und- Amplitudenauflösung bis 24 Bit, Impulsmessungen▷ Auswertung Erstellungspaket von ▷ Auswertung Analog-/Digitalanzeigen, ▷ breites Spektrum von Analog-/Digitalanzeigen, an Stimulierungs- Dotmatrix, LCD/LED, und Messmodulen Dotmatrix, OLED,… LCD/LED, (Eigenentwicklung) OLED,…- CAD-Daten Import, Testabdeckungsanalyse, Programmgenerator▷ CAD-Schnittstelle, ▷ CAD-Schnittstelle, ODBC-Schnittstelle, ▷ Feldbussysteme, ODBC-Schnittstelle, Flash-Programmierung, Qualitätsmanagement QualitätsmanagementEinbindung externer Programme- Debugging Tools, internes Digital Scope und▷ manuelle und ▷pneumatische manuelle ▷ Auswertung und Prüfadapter pneumatische von Analog-/Digitalanzeigen, aus eigener Prüfadapter Entwicklung aus Dotmatrix, eigener LCD/LED, Entwicklung OLED,…Waveform-Generator an jedem Testpunkt▷ Prüfadaptererstellung REINHARDT▷ CAD-Schnittstelle, in einem halben Tag ODBC-Schnittstelle, mit Adapterkonstruktions- Qualitätsmanagementund- Logging- und Statistikfunktionen▷ Prüfadaptererstellung in einem halben Tag mit Adapterkonstruktions- undErstellungspaket ▷ manuelle und pneumatische Prüfadapter aus eigener Entwicklung- flexible Datenbank- und QM-SystemschnittstelleSystem- Erstellungspaket und Messelectronic GmbHBergstr. ▷ 33 Prüfadaptererstellung D-86911 Diessen Tel. in +49 einem 8196 halben 934100Tag mit Adapterkonstruktions- und- papierlose ReparaturstationE-Mail: info@reinhardt-testsystem.de Erstellungspaket http://www.reinhardt-testsystem.de- für Entwicklung, Fertigung- Schneller und zuverlässiger SupportDr. Eschke Elektronikwww.dr-eschke.de Email info@dr-eschke.de Tel. 030 56701669Halle A1, Stand 581REINHARDTSystem- und REINHARDTMesselectronic GmbHREINHARDTSystem- und Messelectronic GmbHSystem- Bergstr. 33 und D-86911 Messelectronic Diessen Tel. +49 8196 934100 GmbHBergstr. 33 D-86911 Diessen Tel. +49 8196 934100E-Mail: info@reinhardt-testsystem.de http://www.reinhardt-testsystem.deE-Mail: info@reinhardt-testsystem.de Bergstr. 33 D-86911 Diessen http://www.reinhardt-testsystem.deTel. +49 8196 934100E-Mail: info@reinhardt-testsystem.de http://www.reinhardt-testsystem.de4/202533